直方圖
(一)直方圖用途
直方圖法是把數(shù)據(jù)的離散狀態(tài)分布用豎條在圖表上標出,以幫助人們根據(jù)顯示出的圖樣變化,在縮小的范圍內尋找出現(xiàn)問題的區(qū)域,從中得知數(shù)據(jù)平均水平偏差并判斷總體質量分布情況。
(二)直方圖畫法
下面通過例子介紹直方圖如何繪制。
[例5-1]生產(chǎn)某種滾珠,要求直徑x為15.0±1.0mm,試用直方圖對生產(chǎn)過程進行統(tǒng)計分析。
1.收集數(shù)據(jù)
在5M1E(人、機、法、測量和生產(chǎn)環(huán)境)充分固定并加以標準化的情況下,從該生產(chǎn)過程收集n個數(shù)據(jù)。N應不小于50,最好在100以上。本例測得50個滾珠的直徑如下表。其中Li為第i行數(shù)據(jù)最大值,Si為第i行數(shù)據(jù)最小值。
表5-1 50個滾珠樣本直徑
J I |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
Li |
Si |
1 |
15.0 |
15.8 |
15.2 |
15.1 |
15.9 |
14.7 |
14.8 |
15.5 |
15.6 |
15.3 |
15.9 |
14.7 |
2 |
15.1 |
15.3 |
15.0 |
15.6 |
15.7 |
14.8 |
14.5 |
14.2 |
14.9 |
14.9 |
15.7 |
14.2 |
3 |
15.2 |
15.0 |
15.3 |
15.6 |
15.1 |
14.9 |
14.2 |
14.6 |
15.8 |
15.2 |
15.8 |
14.2 |
4 |
15.9 |
15.2 |
15.0 |
14.9 |
14.8 |
14.5 |
15.1 |
15.5 |
15.5 |
15.5 |
15.9 |
14.5 |
5 |
15.1 |
15.0 |
15.3 |
14.7 |
14.5 |
15.5 |
15.0 |
14.7 |
14.6 |
14.2 |
15.5 |
14.2 |
2.找出數(shù)據(jù)中最大值L、最小值S和極差R
L=MaxLi=15.9,S=MinSi=14.2,R=S-L=1.7 (5.1)
區(qū)間[S,L]稱為數(shù)據(jù)的散布范圍。
3.確定數(shù)據(jù)的大致分組數(shù)k
分組數(shù)可以按照經(jīng)驗公式k=1+3.322lgn確定。本例取k=6。
4.確定分組組距h
(5.2)
5.計算各組上下限
首先確定第一組下限值,應注意使最小值S包含在第一組中,且使數(shù)據(jù)觀測值不落在上、下限上。故第一組下限值取為:
然后依次加入組距h,便可得各組上下限值。第一組的上限值為第二組的下限值,第二組的下限值加上h為第二組的上限值,其余類推。各組上下限值見表5-2。
表5-2頻數(shù)分布表
組序 |
組界值 |
組中值bi |
頻數(shù)fi |
頻率pi |
1 |
14.05~14.35 |
14.2 |
3 |
0.06 |
2 |
14.35~14.65 |
14.5 |
5 |
0.10 |
3 |
14.65~14.95 |
14.8 |
10 |
0.20 |
4 |
14.95~15.25 |
15.1 |
15 |
0.32 |
5 |
15.25~14.55 |
15.4 |
9 |
0.16 |
6 |
15.55~15.85 |
15.7 |
6 |
0.12 |
7 |
15.85~16.15 |
16.0 |
2 |
0.04 |
合計 |
|
|
50 |
100% |
6.計算各組中心值bi、頻數(shù)fi和頻率pi
bi=(第i組下限值+第i組上限值)/2,頻數(shù)fi就是n個數(shù)據(jù)落入第i組的數(shù)據(jù)個數(shù),而頻數(shù)pi=fi/n(見表14-3)。
7.繪制直方圖
以頻數(shù)(或頻率)為縱坐標,數(shù)據(jù)觀測值為橫坐標,以組距為底邊,數(shù)據(jù)觀測值落入各組的頻數(shù)fi(或頻率pi)為高,畫出一系列矩形,這樣就得到圖形為頻數(shù)(或頻率)直方圖,簡稱為直方圖,見圖5-1。
(三)直方圖的觀察與分析
從直方圖可以直觀地看出產(chǎn)品質量特性的分布形態(tài),便于判斷過程是否出于控制狀態(tài),以決定是否采取相應對策措施。直方圖從分布類型上來說,可以分為正常型和異常型。正常型是指整體形狀左右對稱的圖形,此時過程處于穩(wěn)定(統(tǒng)計控制狀態(tài))。如圖5-2a。如果是異常型,就要分析原因,加以處理。常見的異常型主要有六種:
1.雙峰型(圖5-2b):直方圖出現(xiàn)兩個峰。主要原因是觀測值來自兩個總體,兩個分布的數(shù)據(jù)混合在一起造成的,此時數(shù)據(jù)應加以分層。
2.鋸齒型(圖5-2c):直方圖呈現(xiàn)凹凸不平現(xiàn)象。這是由于作直方圖時數(shù)據(jù)分組太多,測量儀器誤差過大或觀測數(shù)據(jù)不準確等造成的。此時應重新收集和整理數(shù)據(jù)。
3.陡壁型(圖5-2d):直方圖像峭壁一樣向一邊傾斜。主要原因是進行全數(shù)檢查,使用了剔除了不合格品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖。
4.偏態(tài)型:(圖5-2e):直方圖的頂峰偏向左側或右側。當公差下限受到限制(如單側形位公差)或某種加工習慣(如孔加工往往偏。┤菀自斐善;當公差上限受到限制或軸外圓加工時,直方圖呈現(xiàn)偏右形態(tài)。
5.平臺型(圖5-2f):直方圖頂峰不明顯,呈平頂型。主要原因是多個總體和分布混合在一起,或者生產(chǎn)過程中某種緩慢的傾向在起作用(如工具磨損、操作者疲勞等)。
6.孤島型(圖5-2g):在直方圖旁邊有一個獨立的“小島”出現(xiàn)。主要原因是生產(chǎn)過程中出現(xiàn)異常情況,如原材料發(fā)生變化或突然變換不熟練的工人。